L’analisi in Fluorescenza X (XRF – X Ray Fluorescence) è eseguita in aria su un’area superficiale di 2 mm di diametro. La tecnica, nella configurazione sopra descritta, consente l’identificazione degli elementi chimici con numero atomico Z >19 ed ha una capacità di penetrazione di circa 150 mm (la profondità dipende dalla composizione chimica della zona esaminata). Quindi la tecnica può essere impiegata teoricamente per determinare elementi metallici (con Z>19) in campioni solidi di qualunque genere.